介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)定儀

簡(jiǎn)要描述：ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào)：ZJD-C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-07-20
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介電常數(shù)測(cè)試儀

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品牌	AIRTIMES/中航時(shí)代

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    技術(shù)參數(shù)

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

    1雙掃描技術(shù)-測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

    2雙測(cè)試要素輸入-測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

    3雙數(shù)碼化調(diào)諧-數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    4自動(dòng)化測(cè)量技術(shù)-對(duì)測(cè)試件實(shí)施Q值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

    5全參數(shù)液晶顯示–數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

    6DDS數(shù)字直接合成的信號(hào)源-確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

    7計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化—使測(cè)試回路殘余電感減至zui低，**Q讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。

Q 值測(cè)量范圍	2～1023,量程分檔：30、100、300、1000,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差	≤ 5 ％±滿度值的 2 ％(200kHz～10MHz)≤6％±滿度值的2％(10MHz～160MHz)
工作誤差	≤7％±滿度值的2％(200kHz ～10MHz)≤8％±滿度值的2％(10MHz～160MHz)
電感測(cè)量范圍	4.5nH ～140mH
電容直接測(cè)量范圍	1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍	18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度	120pF以下±1.2pF;120pF以上±1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍	100kHz～160MHz
頻率分段( 虛擬)	100～999.999kHz,1～9.99999MHz,10～99.9999MHz,100～160MHz
頻率指示誤差	3×10-5 ± 1個(gè)字

    ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀儀器介紹

    ZJD-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    技術(shù)參數(shù)

    1Q值測(cè)量范圍：5～999

    Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋

    誤差：25kHz～10MHz≤5%±滿度值的2%

    10MHz～50MHz≤7%±滿度值的2%

    2電感測(cè)量范圍：0.1μH～1H分七個(gè)量程

    3電容測(cè)量范圍：1PF～460PF

    主電容調(diào)節(jié)范圍：40PF～500PF

    準(zhǔn)確度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍：-3PF～0PF～+3PF

    準(zhǔn)確度：±0.2PF

    4頻率覆蓋范圍：25kHz～50MHz分七段

    指示誤差：2×10-4±2個(gè)字

    5電源：220V±22V50Hz±2.5Hz25W

    6環(huán)境溫度：(0～+40)℃

    7相對(duì)濕度：RH<80%

    8外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9重量：約7kg

    ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    儀器介紹

    ZJD-B全數(shù)字顯示介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

    ZJD-B數(shù)字式介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀讀書清晰,無須換算,操作簡(jiǎn)便,特別適合電子元器件的質(zhì)量分析,品質(zhì)控制,科研生產(chǎn),也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學(xué)等專業(yè)作科研實(shí)驗(yàn)儀器.

    技術(shù)參數(shù)

信號(hào)源頻率范圍	DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz	Q測(cè)量范圍	1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
信號(hào)源頻率覆蓋比	6000:01:00	Q分辨率	4位有效數(shù),分辨率0.1
信號(hào)源頻率精度	3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)	Q測(cè)量工作誤差	<5%
電感測(cè)量范圍	15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH	調(diào)諧電容	主電容30-500PF
電感測(cè)量誤差	<5%	調(diào)諧電容誤差和分辨率	±1.5P或<1%
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn)	全波段任意頻率下均可測(cè)試	Q合格預(yù)置范圍	5-1000聲光提示
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描	Q量程切換	自動(dòng)/手動(dòng)
諧振指針	LCD顯示	LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,波段等

    中航產(chǎn)品保修承諾：

    1、設(shè)備保修兩年，終身服務(wù)，三年內(nèi)非人為損壞的零部件免費(fèi)更換，保修期內(nèi)接到用戶邀請(qǐng)后，zui遲響應(yīng)時(shí)間為2小時(shí)內(nèi)，在與用戶確認(rèn)故障后，我公司會(huì)在48小時(shí)內(nèi)派工程師到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行免費(fèi)服務(wù)，盡快查清故障所在位置和故障原因，并向用戶及時(shí)報(bào)告故障的原因和排除辦法。

    2、保修期內(nèi)人為損壞的零部件按采購（加工）價(jià)格收費(fèi)更換。

    3、保修期外繼續(xù)為用戶提供優(yōu)質(zhì)技術(shù)服務(wù)，在接到用戶維修邀請(qǐng)后3天內(nèi)派工程師到達(dá)用戶現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行維修。并享有優(yōu)惠購買零配件的待遇。

    4、傳感器過載及整機(jī)電路超壓損壞不在保修范圍內(nèi)。

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