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      高頻絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的測量

      更新時間:2018-05-11      點擊次數(shù):5903

      高頻絕緣材料的介電常數(shù)(相對電容率)和

      介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)的測量

      一、介電常數(shù)(相對電容率εr

      1.εr的定義

      電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時,其形成的電容量CX與同一個結構形成的在真空中的電容量CO比。              

      ε = C/ CO                          ( 1 )

      由于在標準大氣壓下,不含二氧化碳的干炒空氣的相對電容率ε等于

      1.00053,近似與1。因此,在一般測量中,都以該結構在空氣中形成的電容量CO來替代真空中的電容量CO

      2.平板電容的εr

      因為在絕緣材料的測量中,一般都采用平板電容的結構。平板電容在空氣中的電容量為 CO =εS / D     ;當平板電容二極片之間夾入絕緣材料時,平板電容二極片之間的電容量為 CX =εr S / D 2 如 果 令 CO = C  則可獲得下面公式2的絕緣材料介電常數(shù)計算式(εO ≈ 1)。

      .εr的測量

      利用ZJD-B型或ZJD-C型高頻Q表和S916型介電常數(shù)/介電常數(shù)數(shù)顯測量裝置能很方便地實現(xiàn)介電常數(shù)εr   的測量。具體步驟如下:

      (1)選擇一臺測試頻率能滿足測試要求的Q表,按Q表的操作說明,接通Q表電源后。根據(jù)測試的要求,設定一個測試頻率。將Q表的主調(diào)電容,調(diào)至中間值。然后選配一個與測試頻率相適應的高Q值電感線圈,插入Q表頂部標有電感符號的接線柱上。(該電感的值應能保證主調(diào)電容在中間值與大值之間調(diào)節(jié)時,能找到一個諧振點)

      (2)將S916型測量裝置上的二夾具插頭插入Q表頂部標有電容符號的接線柱上。按S916的操作說明,開啟電源;調(diào)節(jié)測量裝置的測微桿,使平板電容器二極片相接為止,然后將S916此時顯示的值校準為“0”。

      (3)將被測的絕緣材料夾入到平板電容器二極片之間。絕緣材料表面應平整、光滑。尺寸、形狀應與電容器極片相一致。調(diào)節(jié)測量裝置的測微桿,使平板電容器二極片夾住樣品止。

      (4)調(diào)節(jié)Q表的主調(diào)電容,使 Q表上顯示的Q值達到大值。讀取S916測試裝置液晶顯示屏上此時顯示的絕緣材料厚度值,計為2

      (5)取出二極片之間被測的絕緣材料,這時Q表又失諧,此時順時針調(diào)節(jié)測量裝置的測微桿(保持Q表的主調(diào)電容值不變),重新使 Q表上顯示的Q值達到大值,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為

      (6)計算出被測的絕緣材料的介電常數(shù)εr

      εr D  / D 4                          ( 2 )

      二、介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)

      1.介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)的定義

      一個有損耗的電容器都可以用一個純電容CS和一個電阻RCS的串聯(lián)來表示(也可以用一個純電容CP和一個電阻RP的并聯(lián)來表示,它們表達的結果是一致的)。

        

      這樣一個有損耗的電容器的介質(zhì)損耗因數(shù)定義為在電阻上損耗的功率與電容CS上的無功功率之比。如果流過的電流為IS,則該電容器的介質(zhì)損耗因數(shù)的正玄值為:

      (3)

      從上面的公式中可看出介質(zhì)損耗因數(shù)頻率、電容值和損耗電阻值都是有關聯(lián)的

      2.介質(zhì)損耗因數(shù)與元件品質(zhì)因數(shù)Q值之間的關系

      同樣,一個有損耗的電容器的品質(zhì)因數(shù)定義為在電容CS上的無功功率與在電阻上損耗的功率之比

      (4)

      從上面的公式中可見,介質(zhì)損耗因數(shù)與元件品質(zhì)因數(shù)Q值之間互為倒數(shù)的關系。因此,利用Q表來測量介質(zhì)損耗因數(shù)是很可行的方法。

      Q表是采用諧振法來測量元件品質(zhì)因數(shù)Q值的,因此Q表都自帶有一個可變的電容器(都采用高Q值的以空氣為介質(zhì)的電容器);一個信號穩(wěn)定的信號源。在外配一個合適的電感器后,Q表都能在信號源頻率所能覆蓋的范圍內(nèi),找到一個頻率諧振點ωo 在沒有其它外加損耗器件時,Q表諧振回路的Q值為:

      因為空氣介質(zhì)電容器的QC >> QL(電感Q值),所以有

                           Q1 ≈ Q (5)

      當在空氣介質(zhì)電容器兩端并聯(lián)一個帶損耗的電容器時,此時上面的公式不能再成立,如果這時Q表諧振時的Q值為Q2,則有

       

      此時的電容器的介質(zhì)損耗因數(shù)為:

        (6)

      空氣介質(zhì)電容器兩端并聯(lián)一個帶損耗的電容器的等效電路圖如下。

      R2、ΔC分別為帶損耗電容器的等效損耗電阻和電容值。C1-ΔC為空氣介質(zhì)電容器的電容值。

      根據(jù)阻抗相等的原則有

      1/(R2+1/ωΔC)+ω(C1-ΔC)=1/(R1+1/ωC1) 

      對上式整理后有

       

      因為空氣介質(zhì)電容器的損耗可忽略,因此可認為電容的損耗就是并聯(lián)的帶損耗電容器的損耗;既ωR2ΔC=ωR1C1。整理上式后可得:

                        R2 =R1C1/ΔC

      由此可得到并聯(lián)的帶損耗的電容器的介質(zhì)損耗因數(shù)為:

         tanδ=ωΔCR2 =ωΔCR1C1/ΔC=ωR1C1C1/ΔC

      將上與式(6)相比較,則有:

      . 介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)的測量

      利用ZJD-B型或ZJD-C型高頻Q表和S916型介電常數(shù)/介電常數(shù)數(shù)顯測量裝置能很方便地實現(xiàn)介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ  的測量。因為在這兩款高頻Q表中,專門增加了介質(zhì)損耗因數(shù)的測量程序,設置了測試按鍵,在顯示屏上可直接讀得介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ值。從而省去了以往復雜的計算工作。具體步驟如下:

      (1)選擇一臺測試頻率能滿足測試要求的Q表,按Q表的操作說明,接Q表電源后。根據(jù)測試的要求,設定一個測試頻率。將Q表的主調(diào)電容,調(diào)至較大值,為后面接入測量裝置和被測材料時增加的電容,預留出空間。然后選配一個與測試頻率相適應的高Q值電感線圈,插入Q表頂部標有電感符號的接線柱上。(該電感的值應能保證主調(diào)電容在不帶有被測材料時,在中間值與大值之間調(diào)節(jié)時能找到一個諧振點)。本公司為 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求,如:1MHz 時電感取250uH,15MHz時電感取1.5uH。

      (2)將S916型測量裝置上的二夾具插頭插入Q表頂部標有電容符號的接線柱上。按S916的操作說明,開啟電源。

      (3)測出損耗測試裝置在測試狀態(tài)下的機構電容CZ,步驟如下:

      a.  將被測的絕緣材料樣品夾入到平板電容器二極片之間。絕緣材料表面應平整、光滑。尺寸、形狀應與電容器極片相一致。調(diào)節(jié)測量裝置的測微桿,使平板電容器二極片夾住樣品止。(注意調(diào)節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松)。 然后取出平板電容器中的樣品,但要保持平板電容器間的間距不變。

      b. 改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點上(既使 Q表上顯示的Q值達到大值);電容讀數(shù)記為C1。

      c. 然后取下測試裝置,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1。

      (4)介質(zhì)損耗因數(shù)的測試

      a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。

      把被測樣品插入二極片之間,改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表處于諧振點上。然后按一次 Q表上的小數(shù)點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置上將 顯示C0= x x x,此時可輸入分布電容值。分布電容值為機構電容CZ和電感分布電容C0(參考電感的技術說明)的和。分布電容值輸入的有效位為3位,0.1pF至99.9 pF,輸入時不需輸入小數(shù)點,只需輸入3位有效數(shù)。例0.1pF,只需輸入

      001;99.9pF,只需輸入999。同時,顯示屏上原C和Q顯示變化為C2和Q2。它表示的是現(xiàn)在的主調(diào)電容容量和回路Q值。

      b.取出平板電容器中的樣品,(保持平板電容器間的間距不變)這時Q表又失諧,再改變Q表上的主調(diào)電容容量,使Q表重新處于諧振點上。

      c. 第二次按下 Q表上的小數(shù)點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示出所測試的絕緣材料樣品的介質(zhì)損耗因數(shù)tn =.x x x x x ,完成測試后。第三次按下 Q表上的小數(shù)點(tgδ)鍵,既退出介質(zhì)損耗系數(shù)的測試。

      (5)測試中應注意的幾個事項

      a. 介質(zhì)損耗因數(shù)的測試中,因存在測試裝置對材料樣品夾的松緊問題,以及材料樣品的厚度均勻問題和儀表的誤差,所以每次的測量結果存在不一致。因此,需多次測量,取其平均值。

      B.在測量損耗因數(shù)極小的材料時,應仔細調(diào)諧Q值的諧振點,Q值應到小數(shù)。

      (6).出錯提示,當出現(xiàn)tn =  NO 顯示時,說明測試時出現(xiàn)了差錯,發(fā)生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的錯誤情況。

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